SMART overall-health self-assessment test result: PASSED両方のテストが失敗したと表示されるのはなぜですか？
sudo smartctl -a /dev/sdc
smartctl 6.6 2018-12-05 r4851 [x86_64-linux-4.14.98] (local build)
Copyright (C) 2002-17, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family: Western Digital AV-GP (AF)
Device Model: WDC WD20EURS-63SPKY0
Serial Number: WD-WMC1T2763021
LU WWN Device Id: 5 0014ee 6addb4b7c
Firmware Version: 80.00A80
User Capacity: 2,000,398,934,016 bytes [2.00 TB]
Sector Sizes: 512 bytes logical, 4096 bytes physical
Device is: In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is: ACS-2 (minor revision not indicated)
SATA Version is: SATA 3.0, 3.0 Gb/s (current: 3.0 Gb/s)
Local Time is: Sun Feb 24 13:43:30 2019 GMT
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 117) The previous self-test completed having
the read element of the test failed.
Total time to complete Offline
data collection: (27240) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x7b) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
Offline surface scan supported.
Self-test supported.
Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 275) minutes.
Conveyance self-test routine
recommended polling time: ( 5) minutes.
SCT capabilities: (0x70b5) SCT Status supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 16
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 200 200 051 Pre-fail Always - 0
3 Spin_Up_Time 0x0027 180 179 021 Pre-fail Always - 5991
4 Start_Stop_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 113
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 200 200 140 Pre-fail Always - 0
7 Seek_Error_Rate 0x002e 200 200 000 Old_age Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 092 092 000 Old_age Always - 6354
10 Spin_Retry_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 0
11 Calibration_Retry_Count 0x0032 100 253 000 Old_age Always - 0
12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 56
192 Power-Off_Retract_Count 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 46
193 Load_Cycle_Count 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 66
194 Temperature_Celsius 0x0022 122 114 000 Old_age Always - 28
196 Reallocated_Event_Count 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 0
197 Current_Pending_Sector 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 0
198 Offline_Uncorrectable 0x0030 100 253 000 Old_age Offline - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0032 200 200 000 Old_age Always - 0
200 Multi_Zone_Error_Rate 0x0008 200 200 000 Old_age Offline - 1
SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed: read failure 50% 6354 4377408
# 2 Extended offline Completed: read failure 90% 6354 4377408
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
ベストアンサー1
あなたのSMART特性はすべて非常に優れており、すべて装備されているからですNo Errors Logged。
お読みください：ATAドライブのセルフテストに失敗しましたが、SMARTステータスはPASSです。どうなりますか？
ドライブがセルフテストに失敗してもSMARTステータスが「通過」の場合、これは通常、ディスクに破損した（修正不可能= UNC）セクタがあることを意味します。これは、セクタに格納されたＥＣＣデータがセクタに格納されたユーザデータと一致せず、ＵＮＣエラーによりセクタを読み取ろうとする試みが失敗することを意味する。これは一時的な一時的な効果である可能性があります。ディスクがセクタを書き込んでいる間、突然の電力損失はECCコードまたはデータを破壊しますが、セクタはできる新しいデータを正しく保存してください。または永久的な影響かもしれません。磁気メディアが多少のほこりによって破損し、そのセクタが新しいデータを正しく保存できません。
ディスクが単一の読み取りでそのセクタからデータを読み取ることができ、破損が一時的ではなく永続的な場合、ディスクファームウェアはそのセクタを「不良」とマークし、それを置き換えるためのスペアセクタを割り当てます。しかし、ディスクがそのセクタを一度も読み取ることができない場合、将来のある時点でデータを読み取ることができることを望み、セクタを再割り当てしません。読み取れない（破損した）セクタに書き込むと問題が解決します。破損が一時的な場合、新しい一貫したデータがそのセクタに書き込まれます。損傷が永続的である場合、書き込みはセクタの再割り当てを強制します。より不良ブロックはどうですか？このセクタを強制的に再割り当てする方法のガイドライン（Linuxのみ）
ファームウェアがサーボエラーなどの他のエラーの兆候を検出できなかったため、ディスクはまだ良好な状態です。
これらのディスクは通常、ディスク製造元のディスク評価および回復ユーティリティを使用して回復できます。注：これにより、不足しているセクターが強制的に再割り当てされ、ディスク上のファイルシステムが破損する可能性があります。バラより不良ブロックはどうですか？一般的なLinuxコマンドに使用されます。
dd読み取れないセクタを修正するには、一種の「回復ユーティリティ」を試してみてください。まずドライブをバックアップしてください！